Innovalia Metrology presenta en EUSPEN 2009 la nueva generación de software metrológico 3D para escala nanométrica
Innovalia Metrolgoy ha presentado en la 9ª Conferencia Internacional de EUSPEN (European Society for Precision Engineering and Nanotechnology), la nueva generación de arquitectura de software metrológico para estrategias de medición a escalas micro y nanométricas. Representantes de la unidad metrológica de Innovalia explicaron cuáles son los principales retos y soluciones en relación con el software de medición en 3D para escala nano: reducir la incertidumbre y aumentar la precisión, la flexibilidad y la productividad. Innovalia Metrology estuvo igualmente representada con dos presentaciones adicionales en el área de nano-metrología.
Innovalia Metrology presenta sus últimas novedades en la Feria Control
Los días 5, 6, 7 y 8 de mayo, Innovalia Metrology ha participado en la 23ª edición de la Feria Control en Stuttgart, Alemania, la única feria en el mundo dedicada exclusivamente al aseguramiento de la calidad.
Innovalia Metrology presentó en Stuttgart las últimas novedades para garantizar la calidad de forma eficiente y reducir notablemente los costes de producción. Los sistemas Sparkscan, Robotscan y Movilscan, todos ellos equipados con el sensor óptico láser Optiscan de Datapixel, generaron, una vez más, gran curiosidad e interés por parte de los asistentes. El stand de Innovalia Metrology recibió la constante afluencia de clientes y numerosos visitantes que querían conocer los productos y sistemas desarrollados por la unidad metrológica de Innovalia.
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Metromeet clausura con éxito su V edición
Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, celebró su quinta edición los días 26 y 27 de marzo en el Palacio Euskalduna de Bilbao. Metromeet ha contado este año con más de 120 asistentes, venidos de todo el mundo: Argentina, EEUU, Reino Unido, Holanda, Alemania, Rusia, España, Italia o Tailandia entre otros, que pudieron disfrutar de los dos tutoriales, cuatro keynotes y 25 presentaciones que componen la Conferencia.
En su quinta edición, METROMEET se ha consolidado como la Conferencia sobre Metrología Industrial Dimensional más importante de Europa y se confirma como foro activo de intercambio de conocimiento y experiencia entre profesionales del sector.
Metromeet presenta un nuevo track: Metrología y Deporte
Metromeet 2009 reunió a expertos en metrología y deporte en un nuevo track titulado Metrología y Deporte. Metromeet, la mejor Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional de Europa, se celebró en el Palacio Euskalduna de Bilbao los días 26 y 27 de marzo de 2009, donde expertos en metrología de todo el mundo se reunieron para compartir conocimientos y experiencias.
En el track Metrología y Deporte participó el Dr. Seton Bennett de NPL (Reino Unido), con una ponencia titulada How far was that? Metrology in sport en la que explicó la importancia de la metrología en el deporte en relación con cuatro aspectos: tiempo, distancia, presión y masa.
Disponible el calendario de cursos 2009
Innovalia Metrology contará durante 2009 con una amplia oferta de cursos de Metrología: Cursos de Metrología Avanzada, Introducción a los sistemas de digitalizado óptico y la metrología virtual 3D, Curso de Tolerancias Dimensionales y Geométricas, Métodos de Verificación Periódica de Máquinas y Seminarios de I++. Además, los cursos de formación a la carta permitirán a las empresas elegir entre un amplio abanico de posibilidades: Medición, Calibración, Medición Óptica, Software de Medición, etc. Consulte el calendario de cursos de Innovalia Metrology
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