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Miembro de:
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Mejore su
Metrolog CMM con
un OptiScan de alta velocidad
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Dotado
con:
Scanlink Metrolog
interface |
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Metrolog
XG y el OptiScan de DATAPIXEL abren
las puertas a la metrología
virtual basada en el escaneo óptico,
ofreciendo un concepto innovador
de proceso de palpado virtual sobre
nubes de puntos y comparación
de mapas de colores contra el CAD
de referencia. |
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Las
posibilidades para los usuarios de
CMM son inmensas:
- Alta velocidad en captura de puntos
(más de 60.000 puntos/seg)
- Medición por escaneo óptico
de superficies y geometrías
- Herramientas virtuales de palpado
sobre nubes de puntos
- Medición óptica de
alta velocidad de perfiles y secciones
- Comparación de mapas de nubes
de puntos en color contra CAD
- Posibilidad multisensor al utilizar
indistintamente palpadores clásicos
con sensores ópticos DATAPIXEL
- Calibración de sensores automáticos
DATAPIXEL
- Mejora de la precisión utilizando
(todas) las herramientas de compensación
de Metrolog XG
- Total compatibilidad con los cabezales
Renishaw
- Programación on-line / off-line
con sensores DATAPIXEL
- Previsualización de puntos
de medición
- Exportación de informes a
diferentes formatos (DMIS, VDAFS, IGES,
ASCII, Excel...)
- Compatibilidad con una amplia gama
de CMMs, ya sean CMMs manuales o CNC |
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Equipo OptiScan H-Class para Metrolog,
Todo lo que usted necesita para transformar
su CMM en un poderoso aparato de escaneo de
alta velocidad:
Equipo H-Class para Metrolog integrado por
un palpador óptico OptiScan H-1040-L,
una unidad de control OptiScan HCU-1000, un
set de cables para CMM, un software ScanLink
Metrolog, el Manual de usuario y una esfera
de calibración.
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